1.引言
在机器视觉检测中,轻微的凹凸检测一直是一个难题。在传统的均匀光照条件下,成像对比度很低,甚至很难成像。因为它只能在投射光源的边界处观察到,所以通常通过线阵扫描或结构光进行检测。
2.结构光原理
结构光检测的基本思想是根据物体表面的反射特征和光学特征,利用特定的人工控制光源照射物体目标,获取目标的三维信息。它是一种主动测量方法,其硬件一般由工业相机、结构光源、计算机等组成。结构光源可以是投影仪、激光或LED光源等等。
3.LED类型的结构光源
3.1点光结构光源
对于漫反射被测物体,在点光源的基础上添加高精度网格片,网格片上的信息通过镜头投影到对焦平面。在选择镜头时,网格片可以等同于相机Sensor芯片,然后根据网格尺寸、工作距离和视野大小选择合适的镜头。
3.同轴结构光源
对于被测物体的镜面反射,在同轴光源发光区域增加一个网格板。使用时,工作距离一般较低,景深要求较大。事实上,相机通过被测对象观察光源上的图案信息。
3.平面同轴结构光源
对于被测物体的镜面反射,在平面同轴光源导光板上镀条纹,使用时工作距离一般较高。
3.4线光结构光源
对于被测物体的镜面反射,在高光线光源的发光区域增加一个网格片,使用时以对称角度倾斜相机光源;也可与同轴模块匹配,与同轴结构光相同。
3.特殊结构光源
对于不规则光滑的被测物体,光源可以根据轮廓特征在空间的某个位置布置,从而完成结构图案的投影。
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